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ISS K2系列熒光/磷光光譜儀為研究者提供了一種結(jié)構(gòu)穩(wěn)固，性能優(yōu)良的儀器平臺，以滿足對熒光和輝光領(lǐng)域的應(yīng)用。

ISS PC1熒光光譜儀是一款高靈敏度，高集成，計(jì)算機(jī)控制的光子計(jì)數(shù)熒光光譜儀，廣泛應(yīng)用于物理化學(xué)，生物化學(xué)，生理學(xué)，神經(jīng)化學(xué)，分子生物，環(huán)境分析和免疫測定等科研領(lǐng)域。

Chronos系列穩(wěn)態(tài)瞬態(tài)熒光光譜儀是可進(jìn)行時域和頻域兩種測試方式的熒光分析儀，此系列熒光分析儀無論是光路設(shè)計(jì)，測試精度，還是儀器自動化控制系統(tǒng)，都達(dá)到了世界ding尖水準(zhǔn)。

美國ISS是jin有的能同時提供時域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案的公司，其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動光譜升級模塊，可以讓您現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測試功能，可適配各種顯微鏡。

半導(dǎo)體技術(shù)的一個重要目標(biāo)是減少所有構(gòu)成半導(dǎo)體器件中，晶體和非晶層中固有的和因生產(chǎn)工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷會導(dǎo)致陷阱的產(chǎn)生，陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅５?，陷阱也能ji大地改變半導(dǎo)體器件的性能。數(shù)字化深能級瞬態(tài)譜儀DLTS是現(xiàn)在一種非常通用的技術(shù)，可用于測定與陷阱相關(guān)的幾乎所有參數(shù)，包括密度、熱界面（熱發(fā)射率）、能級和空間剖面等。